mgr inż. Jakub Krzesłowski otrzymał Certyfikat SPIE za recenzowanie pisma Optical Engineering w roku 2013

W 9 numerze Biuletynu Politechniki Warszawskiej ukazał się artykuł autorstwa Pawła Gregorczyka pt.: “Skaner miejsca zbrodni” w którym wywiadu udzielił prof. nzw. dr hab. inż. Robert Sitnik

Stypendium Wyjazdowe “Programu Rozwojowego Politechniki Warszawskiej ” dla mgr inż. Krzysztofa Malowanego